|
10.1.3 TAP控制器的状态机 TAP控制器有16个同步状态，控制器的下一个状态TMS信号决定，TMS信号在TCK的上升沿被采样生效。 图10-1列出了TAP控制器的16个同步状态转换机制。
Test-Logic-Reset测试逻辑复位状态 处于这种状态下，测试逻辑被禁止以允许芯片正常操作，读IDCODE寄存器将禁止测试逻辑。 无论TAP控制器处于何种状态，只要将TMS信号在5个连续的TCK信号的上升沿保持高电平，TAP就将进入Test-Logic-Reset状 态，如果TMS信号一直为高电平，那么TAP将保持在Test-Logic-Reset状态，另外TRST信号也可以强迫TAP进入Test- Logic-Reset状态。 处于Test-Logic-Reset状态的TAP，如果下一个TCK的上升沿时TMS信号处于低电平，那么TAP将被切换到Run-Test- Idle状态。 Run-Test-Idle运行测试空闲状态 Run-Test-Idle是TAP控制器扫描操作空闲状态，如果TMS信号一直处于低电平，那么TAP将保持在TRun-Test-Idle状 态。当TMS信号在TCK上升沿处于高电平，TAP控制器将进入Select-DR-Scan状态。 Select-DR-Scan选择数据寄存器扫描状态 Select-DR-Scan是TAP控制器的一个临时状态，边界扫描寄存器BSR保持它们先前的状态。 当TMS信号在下一个TCK上升沿处于低电平，TAP控制器进入Capture-DR状态，一个边界扫描寄存器的扫描操作同时被初始化。 如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于高电平，TAP控制器将进入Select-IR-Scan状态。 Capture-DR捕获数据寄存器状态 如果TAP控制器处于Capture-DR状态，且当前指令是SAMPLE/PRELOAD指令，那么边界扫描寄存器BSR在TCK信号的上升沿捕 获输入管脚的数据。如果此时不是SAMPLE/PRELOAD指令，那么BSR保持它们先前的值，另外BSR的值被放入连接在TDI和TDO管脚之间的移 位寄存器中。 处于Capture-DR状态时，指令不会被改变。 如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于高电平，TAP进入Exit1-DR状态。如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于低电平，则TAP进入 Shift-DR状态。 Shift-DR移位数据寄存器状态 在Shift-DR状态下，在每个TCK的上升沿，TDI-移位寄存器-TDO串行通道向右移一位，TDI的数据移入移位寄存器，移位寄存器最靠近 TDO的位移到TDO管脚上。 处于Shift-DR状态时，指令不会被改变。 如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于高电平，TAP进入Exit1-DR状态。如果TMS信号处于低电平，则TAP一直进行移位操作。 Exit1-DR退出数据寄存器状态1 Exit1-DR是TAP控制器的一个临时状态，如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于高电平，TAP进入Update-DR状态；如果TMS信 号在下一个TCK上升沿处于低电平，则TAP进入Pause-DR状态。 处于Exit1-DR状态时，指令不会被改变。 Pause-DR暂停数据寄存器状态 Pause-DR状态允许TAP控制器暂时停止TDI-移位寄存器-TDO串行通道的移位操作。 处于Pause-DR状态时，指令不会被改变。 如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于高电平，TAP进入Exit2-DR状态；如果TMS信号处于低电平，则TAP一直保持暂停状态。 Exit2-DR退出数据寄存器状态2 Exit2-DR也是TAP控制器的临时状态，如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于高电平，TAP进入Update-DR状态，结束扫描操作； 如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于低电平，则TAP重新进入Shift-DR状态。 处于Exit2-D状态时，指令不会被改变。 Update-DR更新数据寄存器状态 在正常情况下，边界扫描寄存器BSR的值是被锁存在并行输出管脚中，以免在EXTEST或SAMPLE/PRELOAD命令下执行移位操作时改变 BSR的值。当处于Update-DR状态时选择的是BSR寄存器，那么移位寄存器中的值将在TCK的下降沿被锁存到BSR寄存器的并行输出管脚中去。 处于Update-DR状态时，指令不会被改变。 如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于高电平，TAP进入Select-DR-Scan状态；如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于低电平，则 TAP进入Run-Test-Idle状态。 Select-IR-Scan选择指令寄存器扫描状态 Select-IR-Scan是TAP控制器的一个临时状态。 如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于低电平，TAP控制器进入Capture-IR状态，一个对指令寄存器的扫描操作同时被初始化。 如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于高电平，TAP控制器将进入Test-Logic-Reset状态。 处于Select-IR-Scan状态时，指令不会被改变。 Capture-IR捕获指令寄存器状态 处于Capture-IR状态时，指令寄存器中的值被固定设置成0b0000001，并将它放入连接在TDI与TDO之间的移位寄存器中。 处于Capture-DR状态时，指令不会被改变。 如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于高电平，TAP进入Exit1-IR状态；如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于低电平，则TAP进入 Shift-IR状态。 Shift-IR移位指令寄存器状态 在Shift-IR状态下，在每个TCK的上升沿，TDI-移位寄存器-TDO串行通道向右移一位，JTAG指令从TDI管脚上被逐位移入移位寄存 器，而移位寄存器中的0b0000001则被逐位从TDO管脚移出。 处于Shift-IR状态时，指令不会被改变。 如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于高电平，TAP进入Exit1-IR状态；如果TMS信号处于低电平，则TAP一直进行移位操作。 Exit1-IR退出指令寄存器状态1 Exit1-IR是TAP控制器的一个临时状态，如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于高电平，TAP进入Update-IR状态；如果TMS信 号在下一个TCK上升沿处于低电平，则TAP进入Pause-IR状态。 处于Exit1-IR状态时，指令不会被改变。 Pause-IR暂停指令寄存器状态 Pause-IR状态允许TAP控制器暂时停止TDI-移位寄存器-TDO串行通道的移位操作。 处于Pause-IR状态时，指令不会被改变。 如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于高电平，TAP进入Exit2-IR状态；如果TMS信号处于低电平，则TAP一直处于暂停状态。 Exit2-IR退出指令寄存器状态2 Exit2-IR也是TAP控制器的临时状态，如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于高电平，TAP进入Update-IR状态，结束扫描操作； 如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于低电平，则TAP重新进入Shift-IR状态。 处于Exit2-D状态时，指令不会被改变。 Update-IR更新指令寄存器状态 处于Update-IR状态时，移位寄存器中的值将在TCK的下降沿被锁存到指令寄存器中，一旦锁存成功，新的指令将成为当前的指令。 如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于高电平，TAP进入Select-DR-Scan状态；如果TMS信号在下一个TCK上升沿处于电平，则 TAP进入Run-Test-Idle状态。 |
|
|
