晶振又叫晶体振荡器,是一种通过一定电压激励产生固定频率 的一种电子元器件,被广泛的用于家电仪器和电脑等方面。在电路中晶振用字母“Y”表示。
一、晶体的种类及在电路中的符号:晶振可分为无源晶振 、有源晶振两种。无源晶振一般只有两只引脚,有源晶振一般为四只引脚,并且在插机时对相应脚位有严格的要求,如果插反方向会将晶振损坏。 (同时贴片晶振的振膜很薄,拿取时要轻拿轻放).
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二、晶体的作用: 晶体在电路中的作用是调换频率,为数字电路提供时钟信号等。
三、晶体的主要参数
1、标称起振频率:晶体本体注的或表示晶体规格的频率。 2、使用温度范围:即晶体能够正常工作的温度范围。 3、保存温度范围:即晶体有效存储的温度范围。 4、频率公差:在常温下(参考点25℃)中心频率的偏差值,用 最大值和最小值来定义,单位用百分(%)或百万分比(ppm)。 5、频率温度特性:经过规定的使用温度范围内,在室温下的值作为基准,频率改变的大小与其的比值。 6、年老化特性:一般以晶体经过一年后,频率变化量与初始频率的比值。 7、激励功率:使晶体能够起振的功率。 8、等效电阻: 通常我们测量串联谐振频率下的电阻,并联谐振负载频率下的电阻称为实际电阻。单位欧姆(Ω)。 9、负载电容:晶体的负载电容是和晶体联合决定工作频率的外部电容,单位皮法(pF). 10、静态电容
四、晶体的检验
1、晶体的检查内容:
晶体检查通常包括以下内容:包装状况、晶体封装(外型)、表面丝印、引脚或焊端、尺寸规格等;若条件允许,则需检测晶体的串联/并联谐振频率、串联/并联谐振电阻、频偏、静态电容、温度特性、耐冲击性等;若只有部分条件允许,只需调整晶体的等效阻抗、负载电容或激励功率等,检测其标称起振频率。
2、晶体的常见不良项:
晶体检查中的常见不良项有:不起振、频偏过大、串联/并联谐振阻抗偏大、高温后频偏大、包装不良、封装不良、丝印不清、耐冲击不良、引脚/焊端氧化等。
附表——晶振检查项目
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