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粒径统计之从电镜图到数据图——简单而实用的小软件ImageJ(一)

 solomon214 2016-07-13

前言:


友情提示: 大家直接在百度中搜索ImageJ就可以找到这块软件,软件本身也不大,下起来很方便,祝大家使用愉快!




ImageJ的功能很多(这是为什么我们选取ImageJ来分享的一个原因),统计粒径的方式也有多种,今天跟大家分享一种最常规的方式——手动统计粒径。后续我们会对其他的方式也进行一些基本的介绍,敬请期待。


第一步:利用ImageJ打开图片文件。

ImageJ是一个基于java的公共的图像处理软件,它能够处理TIFF, PNG, GIF, JPEG, BMP, DICOM, FITS等多种格式的图片(只要将SEM,TEM图片变成这些格式就可以用ImageJ进行处理了)。


操作:点击ImageJ菜单栏中File--Open,找到想要打开的TIF或者JPG文件,将其打开,得到下图右所示界面。


备注:TEM图片有的时候是DM3的格式,需要先通过Gatan DigitalMicrograph(有机会后面也会跟大家进行分享)将其转变为TIF或者JPG格式。


第二步:设置标尺。

标尺对于一个图片的重要性用不着我废话,这里,我只讲操作。


a. 在工具栏中找到画线工具,然后采用它画一条直线,与标尺长度重合;

(备注:如果标尺太小,可以通过缩放工具将图片放大之后,再用画线工具画直线)



b. 在ImageJ的菜单栏中找到Analyze-->Set scale,在弹出来的窗口中,Known Distance一栏中填入标尺的已知长度,Unit of Length中更改标尺的单位。然后,点击OK完成标尺的设置。


设置标尺实际上就是要得到像素长度和已知标尺长度的比例尺,这样画一条线就可以通过这个比例直接得到这条线的真实长度。


第三步:量取粒径。

设置好标尺以后,就可以通过划线来方便地量取纳米颗粒的粒径尺寸了。


a. 采用画线工具,划出某一颗粒的直径(如果颗粒太小,可以采用缩放工具进行缩放),然后点击菜单中Analyze-->measure,在弹出的result窗口中,length即为测得的纳米颗粒粒径数据。



b. 标记好已经统计过的颗粒。

一般而言,粒径统计应该统计最少100个纳米颗粒,为了保证统计的准确性,不要重复统计。ImageJ中有一个标记工具,可以让大家很方便地知道哪个颗粒已经统计过了。


操作:点击Analyze-->Label即可,每量取一个纳米颗粒之后,Label一下,可以避免重复统计。


第四步:统计结果导出。

待100颗纳米颗粒全部统计完毕之后,点击result窗口,在菜单中选取save as进行保存,会得到一个XLS文件。



第五步:统计结果分析。

统计结果的分析我们还是采用origin来进行。

具体操作步骤如下:

a. 打开xls文件,将length这一列数据拷贝到origin中。


b. 选中该列,然后点击Origin菜单栏中Statistic-->Descriptive Statistic-->Frequency count;



c. 在弹出的窗口中可以选择统计的参数,包括最小值(minimum),最大值(maximum),增量(Incremen)等。


d. 设置好之后点击OK,可以得到下图所示的表格。


e. 选中其中的count一栏,然后做column图,并对坐标轴进行美化,得到上图所示的粒径分布图。


f. origin中如何求取平均值和标准差?

以粒径统计为例,在b步骤中选取该列后点击Origin菜单栏中Statistic-->Descriptive Statistic-->Statistics on column,在弹出的窗口中,可以看到平均值和标准差。


一般,粒径分布图中, 人们会把平均值和标准差列在分布图上,如下图所示。



至此,粒径统计的整个过程就结束了。有疑问?试一试吧,有什么不懂的可以留言讨论!


声明:这里分享的粒径统计方法并不是唯一的,也可能不是最优的,只是提供一种可行的方式,后期我们还会推出其他简洁的方式,敬请期待!




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