作者:微叶科技 时间:2015-10-22 17:00 利用1ED020I12为主器件做IGBT驱动电路,其外围接口电路简洁,通过对外围部分器件的调整,可以驱动各种电流段的IGBT,利用1ED020I12器件内部各种保护功能能有效的保护IGBT,而且1ED020I12的响应速度非常快,只有40ns,完全满足一些高频率要求的驱动电路,因此,1ED020I12是理想的IGBT驱动芯片 图11ED020I12内部框图 2 1ED020I12的外部保护特性2.1过流保护 IGBT在CE间流过的电流的大小可以说与CE间的电压成正比,利用IGBT这一特性,在器件上设计了DESAT引脚,它可以检测CE间的电压,当它超过9V的时候,就关闭驱动输出,这样保证IGBT不至于过热而烧坏。为了不引起误保护,器件还设计了一消隐时间电路,它是利用器件内部高精度恒流源与外部电容来做的,根据手册介绍,外部电容可以选择1nF,如果DESAT引脚检测到电压超过9V,那么在150ns内会封锁驱动输出,在2.25us内会输出一报警信号。 2.2米勒箝位功能 首先介绍一下米勒效应的原理如图2所示。IGBT的结构决定了在IGBT的CG间和GE间都存在一电容,虽然电容容量很小,但是如果在一个半桥结构中打开下端IGBT时会引起上端IGBT二极管duCE/dt的变化,因为IGBT的CG之间存在一电容CCG,那么此时会产生一电流 公式。 图2 miller效应 电流iCG通过Miller电容CCG、电阻(RDriver,RGON、RGint)、CGE,当CGE上的电压超过IGBT的开通电压那么就会引起IGBT导通。这样就引起了上下管同时导通的极端恶劣情况,当IGBT结温超过额定温度时就会损坏IGBT。本器件为了消除米勒效应,特别设计了米勒箝位电路,它通过CLAMP引脚实时监测IGBT门极电压,当GE间的电压超过2V时,器件就会自动打开内部一MOSFET,以便使CGE电荷迅速释放。这种功能的应用可以在很多场合中省掉IGBT驱动传统设计中需用的负电源。在此说明,VCLAMP的内部吸收电流最大为1A3 1ED020I12在IGBT驱动电路中的应用 3.1典型驱动电路 图3为IGBT典型驱动电路。系统正常工作时,1ED020I12根据IN脚输入给定的电平信号,决定OUT输出的情况,同时监测IGBT的CE两端电压值。在正常情况下,FLTn脚输出高电平,如果有短路或者很大的电流流过IGBT,IGBT就会进入欠饱和模式,电压迅速上升。 图3 IGBT典型驱动电路 当DESAT脚监测到电压值高于9V时,芯片迅速封锁驱动输出,开始软关断IGBT,以防止di/dt导致的高压;同时触发器件内部的反馈通道使FLTn输出变为低电平,通知控制器芯片封锁PWM输出。在IGBT关断期间,C4放电,故障监测电路置为无效,以避免产生错误的故障信号。一旦监测到故障状态,OUT输出禁用。在禁用期间,忽略所有输入的驱动信号,使驱动能彻底地软关断IGBT。禁用时间过了之后,原输入驱动信号再次变为高电平,使故障监测电路重新有效。在本电路中OUT输出通R6后连接到T1与T3两个三极管,这是因为本设计中IGBT额定电流达300A,其驱动电流最高可达7A,所以1ED020I12达不到要求,要另加一级驱动。如果驱动的IGBT比较小,那么可以直接可以将OUT接R6后接到IGBT门极。 3.2外围电路设计 除了利用1ED020I12自身做的一些保护措施,另还需要考虑根据IGBT一些自身特性来设计外围的电路。 (1)关于驱动电路与IGBT间的配线 图4为门极驱动电路配线示意图。在驱动电路和IGBT间的配线长的情况下,门极信号的振荡和感应杂波会导致IGBT误动作。作为对策,有如下方法: 图4 配线示意图 ①驱动配线要尽量短,门极配线和发射极配线要紧密拧成一体(扭转状配线)。②增大RG,但是注意开关损耗等情况。如果IG-BT应用于桥式电路中还应仔细观察IGBT的开通关断时间,以便设置合理的死区时间 ③门极配线和IGBT的主电路配线要尽量远离,布局时两者要正交,使相互间不受感应。 ④不要和其他相的门极配线绑扎在一起。 ⑤G-E间加一电阻RGE。加REG能有效增加IGBT驱动的可靠性,RGE能使门极电位保持在设定状态,阻止门极充电。RGE推荐电阻10K (2)驱动电压 IGBT与其它的MOS型元器件一样,需要在实施了充分的静电对策的环境下使用。IGBT的G-E间最大额定电压为UGES=±20V,考虑到1ED020I12器件VCC2最大电压为20V,VEE2最小电压为-12V,电路中我们设计正电源为16V,负电源-5V,并且用示波器确定电源电压的变动范围在±10%以内。另在IGBT的G-E间安装16V的双向的瞬态电压抑制器以防止各种原因引起的GE间电压过高。 |
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