logo
搜索
我的图书馆

发文章

发文工具

其他工具

留言交流
搜索
分享

TI/LM5069MM失效分析

 5cob11i1r1swtv 2024-09-18 发布于浙江
热插拔芯片使用失效，通过IV测试、热点定位（InGaAs）、Decap+OM、去层+OM和Voltage Contract测试，找到失效点。

    本站是提供个人知识管理的网络存储空间，所有内容均由用户发布，不代表本站观点。请注意甄别内容中的联系方式、诱导购买等信息，谨防诈骗。如发现有害或侵权内容，请点击一键举报。
    转藏 分享 献花（0）

    来自： 5cob11i1r1swtv > 《待分类》

    举报/认领

    0条评论

    发表

    请遵守用户 评论公约

    类似文章 更多