I——在测定采尘滤膜上石英的衍射强度时，测得的标准硅（111）面网衍射强度，CPS。
如仪器配件没有配标准硅，可使用标准石英（101）面网的衍射强度（CPS）表示I值。
由计算得到的I值（CPS），从标准曲线查出滤膜上粉尘中石英的质量（m）。
B
6.5.4计算粉尘中游离二氧化硅（α-石英）含量按式（5）计算：
（5）
mm
SiOSiO(F(F)=)=××100100
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MM-M-M
2211
式中：SiO（F）——粉尘中游离二氧化硅（α-石英）含量，%；
2
m——滤膜上粉尘中游离二氧化硅（α-石英）的质量，mg；
G——粉尘样品质量，mg。将M-M改为G，与红外法一致！
21
6.6注意事项
6.6.1本法测定的粉尘中游离二氧化硅系指α-石英，其检出限受仪器性能和被测物的结晶状
态影响较大；一般X线衍射仪中，当滤膜采尘量在0.5mg时，α-石英含量的检出限可达1%。
6.6.2粉尘粒径大小影响衍射线的强度，粒径在10μm以上时，衍射强度减弱；因此制作标
准曲线的粉尘粒径应与被测粉尘的粒径相一致。
6.6.3单位面积上粉尘质量不同，石英的X线衍射强度有很大差异。因此滤膜上采尘量一般
控制在2mg~5mg范围内为宜。
6.6.4当有与α-石英衍射线相干扰的物质或影响α-石英衍射强度的物质存在时，应根据实际
情况进行校正。
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