I——在测定采尘滤膜上石英的衍射强度时,测得的标准硅(111)面网衍射强度,CPS。 如仪器配件没有配标准硅,可使用标准石英(101)面网的衍射强度(CPS)表示I值。 由计算得到的I值(CPS),从标准曲线查出滤膜上粉尘中石英的质量(m)。 B 6.5.4计算粉尘中游离二氧化硅(α-石英)含量按式(5)计算:
(5) mm SiOSiO(F(F)=)=××100100 22 MM-M-M 2211 式中:SiO(F)——粉尘中游离二氧化硅(α-石英)含量,%; 2 m——滤膜上粉尘中游离二氧化硅(α-石英)的质量,mg; G——粉尘样品质量,mg。将M-M改为G,与红外法一致! 21 6.6注意事项 6.6.1本法测定的粉尘中游离二氧化硅系指α-石英,其检出限受仪器性能和被测物的结晶状 态影响较大;一般X线衍射仪中,当滤膜采尘量在0.5mg时,α-石英含量的检出限可达1%。 6.6.2粉尘粒径大小影响衍射线的强度,粒径在10μm以上时,衍射强度减弱;因此制作标 准曲线的粉尘粒径应与被测粉尘的粒径相一致。 6.6.3单位面积上粉尘质量不同,石英的X线衍射强度有很大差异。因此滤膜上采尘量一般 控制在2mg~5mg范围内为宜。 6.6.4当有与α-石英衍射线相干扰的物质或影响α-石英衍射强度的物质存在时,应根据实际 情况进行校正。
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